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Laserwellenlänge

Laserschwingungswellenlänge (λ)

Die Laserwellenlänge wird durch das Symbol λ dargestellt und in nm gemessen.
Sie wird durch die Bandlücke des Kristallmaterials der aktiven Schicht und die Resonatorlänge der Chipstruktur bestimmt.
Auch wenn es viele Optionen für die Schwingungswellenlänge innerhalb der Resonatorlänge gibt, schwingt diejenige Laserwellenlänge, bei der die meiste Verstärkung um die Bandlücke erzielt wird.
Wenn die Sperrschichttemperatur (aktive Schicht) steigt, nimmt die Resonatorlänge physikalisch mit dem Brechungsindex zu, sodass die Wellenlänge der Laserschwingung bei steigender Gehäusetemperatur und Lichtleistung länger wird.

[Parameter für Bandlücke und Chipstruktur]

Schwingungswellenlänge (λ): Messverfahren

Die Lichtleistung der LD wird mithilfe des APC-Treibers konstant gehalten.
Der Laserstrahl wird mithilfe einer Fokussierlinse in die Lichtleitfaser eingespeist und die Lichtleitfaser zur Beobachtung des Schwingungsspektrums in den optischen Spektrumanalysator eingeführt.

[Messbild] [Messbild]

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