BD16950EFV-C
2-Kanal-Halbbrücken-Gate-Treiber

Der BD16950EFV ist ein nach AEC-Q100 für die Automobilindustrie qualifizierter 2-Kanal-Halbbrücken-Gate-Treiber, der von einer externen MCU über eine 16-Bit-SPI-Schnittstelle (Serial Peripheral Interface) gesteuert wird. Die unabhängige Steuerung von Low-Side- und High-Side-N-MOSFETS ermöglicht mehrere MCU-gesteuerte Modi. Ein programmierbarer Treiberstrom steht zur Anpassung der Anstiegsgeschwindigkeiten zur Verfügung, um die Anforderungen an EMI und Verlustleistung zu erfüllen. Diagnosefunktionen können von einer externen MCU ausgelesen und zurückgesetzt werden.

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Produktdetails

 
Teilenummer | BD16950EFV-CE2
Status | Empfohlen
Gehäuse | HTSSOP-B24
Einheitenmenge | 2000
Minimale Gehäusemenge | 2000
Gehäusetyp | Taping
RoHS | Ja

Funktionalen Sicherheit:

Kategorie : FS supportive
A product that has been developed for automotive use and is capable of supporting safety analysis with regard to the functional safety.
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Spezifikationen:

Grade

Automotive

Common Standard

AEC-Q100 (Automotive Grade)

Vcc (Max.)[V]

40.0

Power Supply Voltage (Max.) [V]

40.0

Power Supply Voltage (Min.) [V]

5.5

Output On Resistance (Typ.)[Ω]

10.0

Number of Motors

1.0

VREF・PWM

-

Current Limit

-

High Speed Drive

-

Automotive class

Yes

Operating Temperature (Min.)[°C]

-40

Operating Temperature (Max.)[°C]

125

Package Size [mm]

7.8x7.6 (t=1)

Eigenschaften:

  • AEC-Q100 Qualified
  • 2ch Half-Bridge Gate Drivers
  • 4 external MOSFETs are Controlled Independently
  • Half-Bridge Control Modes are Selected by SPI
  • Slew Rates are Controlled with Constant Source/Sink Current.
  • 500 kHz Oscillation for Charge Pump.
  • 16bit SPI

Evaluation
Board

 
    • Evaluation Board
    • BD16950EFV-EVK-001

    • This Evaluation Board consists of the Automotive 2-channel Half-Bridge Driver IC and USB cable. Also a GUI can be provided for easy SPI register configuration. Besides this motor driver IC the evaluation board contains all external components necessary for operation including a full bridge created by discrete FETs, an LDO for logic supply, SPI interface and various test points for signal monitoring.

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