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Mit Evaluation Boards ist es einfach, ROHMs breites Portfolio an SiC-Schottky-Dioden (SBDs), SiC-MOSFETs , sowie SiC-Leistungsmodulen (die SiC-SBDs und MOSFETs integrieren) zu evaluieren.
Diese kompakten und effizienten Halbleiterbauelemente reduzieren die Größe des Endprodukts erheblich. In Verbindung mit einem Evaluation Board können sie auch dazu verwendet werden, Prototyp-Anwendungen zu realisieren und die Entwicklung von Sets zu initiieren.
Evaluation Board Sortiment
| Kategorie | SiC Produkt | Bild | Artikelnummer. | Hersteller | Produkt-Details | Benutzerhandbuch | Board erwerben | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| SiC-MOS | Evaluation Board | SCT3XXX-Serie Trench(3G) TO-247 3L/4L |  |
NEU P02SCT3040KR-EVK-001 |
ROHM | Details | Benutzerhandbuch | Online-Distributoren |
| Produkt-Spezifikationen | ||||||||
| SiC Module | Treiber-Board | BSM-Serie Planar (2G)(1200V, E / G type) |  |
BSMGD2G12D24-EVK001 | - | Benutzerhandbuch | Anfragen | |
| BSM-Serie Trench(3G/4G) (1200V,E/G type) | BSMGD3G12D24-EVK001 | - | Benutzerhandbuch | Anfragen | ||||
| BSM-Series (1200V,C type) |  |
BSMGD3C12D24-EVK001 | - | Benutzerhandbuch | Anfragen | |||
| BSM series (1700V,E type) |  |
BSMGD2G17D24-EVK001 | Benutzerhandbuch | Anfragen | ||||
| BSM series (1200V,1700V E/G type) |  |
2EG-B series | TAMURA | Tamura Manufacturing’s Website | ||||
| Snubber Modul | BSM-Serie (1200V, C type) |  |
MGSM1D72J2-145MH26 | ROHM | - | Anfragen | ||
| BSM-Serie (1200V, E / G type) | MGSM1D72J2-145MH16 | - | ||||||
| BSM250 (1700V, E type) | MGSM1D72J3-934MH93 | - | ||||||
| AC/DC | Evaluation Board | SCT2H12NZ |  |
BD7682FJ-LB-EVK-402 | ROHM | Details | Applikationsschrift | Online-Distributoren |
Evaluation Board Übersicht
P02SCT3040KR-EVK-001
- Zur Evaluierung von ROHMsSCT3040KR (1200V/40mΩ/TO-247-4L)
Ermöglicht die Evaluierung anderer ROHM SiC-MOSFETs durch Austauschen der Bauteile und Anpassung von Schaltungsparametern - Zusätzlich zum TO-247-4L-Gehäuse gibt es Durchgangslöcher für TO-247-3L, die es ermöglichen, vergleichende Evaluierungen auf derselben Platine durchzuführen.
- Nur eine Stromversorgung (+12V Betrieb) erforderlich
- Unterstützt Doppelpulstests bis zu 150A und Schaltfrequenzen bis zu 500kHz
- Kompatibel mit einer Vielzahl von Stromversorgungs-Topologien (Buck/Boost/Half Bridge)
- Integrierte isolierte Stromversorgung für den Gate-Treiber. Gate-Spannung einstellbar über einen variablen Widerstand (+12V bis +23V)
- Jumper-Pins ermöglichen das Umschalten zwischen negativer Ausschaltspannung und Ausschalten mit 0V.
- Enthält Überstromschutz (DESAT, OCP) zusammen mit einer Funktion zur Verhinderung des gleichzeitigen Einschaltens beider MOSFETs in der Halbbrücke
Evaluation Board für AC/DC-Wandler-Steuerungs-IC mit eingebautem 1700V-SiC-MOSFET
Optimiert für den Einsatz für Hilfssspanungsversorgungen in industriellen Anwendungen, integriert dieses Evaluierungsboard ROHMs AC/DC-Wandler-Steuer-IC und einen 1700V-SiC-MOSFET.
BD7682FJ-LB-EVK-402
- AC/DC Evaluation Board mit SiC-MOSFET-Treiber (Sperrwandler)
- Enthält den SCT2H12NZ 1700V-SiC-MOSFET von ROHM
- Enthält ROHMs BD7682FJ-LB AC/DC-Wandler-Steuerungs-IC
- 3-phasiger 400 bis 690VAC Eingang, 24V/1A Ausgang
Applikationsschriften
- Basics and Design Guidelines for Gate Drive Circuits
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- Notes for Temperature Measurement Using Forward Voltage of PN Junction
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- Two-Resistor Model for Thermal Simulation
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- Method for Monitoring Switching Waveform
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- How to Use Thermal Models
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- What is a Thermal Model?
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- Precautions During Gate-Source Voltage Measurement
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- Improving Switching Loss by Driver Source
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- Snubber Circuit Design Methods for SiC MOSFETs
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- Gate-Source Voltage Surge Suppression Methods
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- Gate-Source Voltage Behavior in a Bridge Configuration
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Produktsuche
Verwandte Links